檢測項目
      
		
	聚焦離子束分析(FIB)
                  
                    
                    1、聚焦離子束技術(shù)(FIB)聚焦離子束技術(shù)(Focused Ion beam,F(xiàn)IB)是利用電透鏡將離子束聚焦成非常小尺...
                 
                         
                    
                
            X射線光電子能譜分析(XPS)
                  
                    
                    1. X射線光電子能譜技術(shù)X射線光電子能譜技術(shù)(X-ray photoelectron spectroscopy,簡稱X...
                 
                         
                    
                
            動態(tài)二次離子質(zhì)譜分析(D-SIMS)
                  
                    
                    1. 飛行時間二次離子質(zhì)譜技術(shù)二次離子質(zhì)譜技術(shù)(Dynamic Secondary Ion Mass Spectrome...
                 
                         
                    
                
            飛行時間二次離子質(zhì)譜分析(TOF-SIMS)
                  
                    
                    1. 飛行時間二次離子質(zhì)譜技術(shù)飛行時間二次離子質(zhì)譜技術(shù)(Time of Flight Secondary Ion Mas...
                 
                         
                    
                
            俄歇電子能譜分析(AES)
                  
                    
                    1.俄歇電子能譜技術(shù)(AES)俄歇電子能譜技術(shù)(Auger electron spectroscopy,簡稱AES),是...
                 
                         
                    
                
             
           掃一掃 關(guān)注我們
 
           企業(yè)微信二維碼
Copyright? 2021 蘇州天標(biāo)檢測技術(shù)有限公司 版權(quán)所有
蘇ICP備15049334號-3 網(wǎng)站建設(shè):中企動力 蘇州 SEO標(biāo)簽導(dǎo)航
 
            
	                 
	                 
	                 
	                 
	                 
	                 
           .jpg) 
      